【お知らせ】2026年 新春電子顕微鏡解析技術フォーラム

公益社団法人 日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会

責任者   和田 充弘

実行委員長 高橋 知里

日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会では、機能性材料や電子デバイスの評価に関する身近な疑問をざっくばらんに話し合う場として、「電子顕微鏡解析技術フォーラム」の開催を企画しています。

今回の新春フォーラムでは、夏のフォローアップとして「その場観察」を取り上げ、チュートリアルではその場観察の基礎技術を振り返り、トピックスではより実践的な研究事例を紹介頂きます。 また、このフォーラムの特色である“ざっくばらんトーク”では、参加者の皆様が抱えている課題や疑問を発表していただき、それをもとに今後のご研究に役立つ議論を行います。
また、このフォーラムの特色である“ざっくばらんトーク”では、参加者の皆様が抱えている課題や疑問を発表していただき、それをもとに今後のご研究に役立つ議論を行います。

「その場観察」に携わっている皆様、これから取り組んでみたいとお考えの皆様、ぜひ奮ってご参加ください!

1. 主 催:公益社団法人 日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会

2. 日 時:2026年1月16日(金)13:00 ~17:30(予定) (意見交換会~20:00予定)

3. 会場:名古屋大学EI創発工学館FUJIホール

4. 参加費:3,000円(日本顕微鏡学会個人・法人・学生)、4,000円(協賛会員)、5,000円(会員外)   意見交換会参加費:2,000円

<協賛学会員> 医学生物学電子顕微鏡学会、応用物理学会、軽金属学会、日本バイオイメージング学会、日本化学会、日本解剖学会、日本金属学会、日本結晶学会、日本工学会、日本細胞生物学会、日本材料科学会、日本組織細胞化学会、日本鉄鋼協会、日本表面科学会、日本病理学会、日本物理学会、日本分析化学会、日本臨床分子形態学会

5. 定員:80名

6. 申し込み期間:2025年12月1日(月)~2026年1月8日(木)(定員になり次第締め切ります)

7. 申し込み方法:12月1日に電子顕微鏡解析技術分科会HP上にてお申込みフォームのURLを公開いたします。サイトにアクセスして頂き、必要事項をご記入の上、お申込みください。

8. お問い合わせ先(事務局):
日鉄テクノロジー(株) 水尾 有里 e-mail: mizuo.yuri.8dg@nstec.nipponsteel.com

9.ざっくばらんトーク
今回は「その場観察」をテーマに絞り、皆様からの疑問やご質問を募集いたします。実際の観察技法やデータ解析 方法に関する疑問点から、最新技術に関するご質問まで、ぜひお気軽にお寄せください。

10.プログラム

チュートリアル ■※敬称略
・環境・エネルギー材料その場電子顕微鏡解析 竹口 雅樹(物質・材料研究機構)

トピックス ■※敬称略
・走査電子誘電率顕微鏡を用いた液中環境下での高コントラスト・非侵襲的その場観察 内山 博允(東レリサーチセンター)
・In-situ 加熱 TEM 観察の材料解析への応用 中村 和人(東ソー分析センター)
・クライオ電顕技術を用いた材料系試料のその場観察 稲葉 健介(日産アーク)
・低電子線耐性材料のその場損傷解析 吉田 要(JFCC)

ざっくばらんトーク
今回は「その場観察」をテーマに絞り、皆様からの疑問やご質問を募集いたします。実際の観察技法やデータ解析
方法に関する疑問点から、最新技術に関するご質問まで、ぜひお気軽にお寄せください。

皆様のご参加をお待ちしております!


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