第50回 日本顕微鏡学会 第75回学術講演会(名古屋) 

S-5 産業における電子顕微鏡解析の実際
S-5 Practical analytical technique by electron microscopy in companies
6月17日(月) 14:40 ~17:50 G会場 (Room G)

座 長(Chairperson)
和田 充弘(三井金属鉱業)
Mitsuhiro Wada(MITSUI MINING & SMELTING CO., LTD.)
石丸 雅大(コベルコ科研)
Masahiro Ishimaru(KOBELCO RESEARCH
INSTITUTE, INC)

1pmG_S5-1 14:40 ~15:05
歯–接着材界面のナノレベル微細構造解析
Nano-level Structure Analysis of the Tooth-adhesive Interface
峯 篤史1(1大阪大学大学院歯学研究科)
Atsushi Mine11Osaka University Graduate School of Dentistry)

1pmG_S5-2 15:05 ~15:30
アルミニウムと窒化アルミニウム接合界面の解
析と実製品への応用
Atomic structures analysis of Al/AlN bonding interface and
its application to our products.
千葉 一1,寺崎 伸幸1,秋山 和裕1,長友 義幸1,黒光祥郎1,熊本 明仁2,柴田 直哉2,幾原 雄一21三菱マテリアル(株),2東京大学)
Hajime Chiba1, Nobuyuki Terasaki1, Kazuhiro Akiyama1, Yoshiyuki Nagatomo1, Yoshiro Kuromitsu1, Akihito Kumamoto2, Naoya Shibata2, Yuischi Ikuhara2
1 MITSUBISHI MATERIALS CORPORATION, 2 The University of Tokyo)

1pmG_S5-3 15:30 ~15:55
FIB-SEM断面形態から導いたナノオーダ粒子の
付着力推定手法
Adhesion estimation method of the nano order particle derived from the section form by FIB-SEM
杉山 麻子1,山本 晃介1,井上 靖数1,佐々木 豊成21キヤノン株式会社,2一般財団法人 工業所有権協力センター)
Asako Sugiyama1, Kosuke Yamamoto1, Yasukazu Ikami1, Toyoshige Sasaki2
1 Canon Inc., 2 Industrial Property Cooperation Center)

1pmG_S5-4 15:55 ~16:20
先端電子顕微鏡による工業製品の解析~位相法
を中心に~
Analysis of industrial products by using advanced electron
microscopy ~phase-related techniques~
佐々木 宏和1,山本 和生2,穴田 智史2,平山 司2,山崎 順3,柴田 直哉4,佐々木 勝寛51古河電工(株),2一般財団法人 ファインセラミックスセンター,3 大阪大学,4東京大学,5UACJ)
Hirokazu Sasaki1, Kazuo Yamamoto2, Satoshi Anada2, Tsukasa Hirayama2, Jun Yamasaki3, Naoya Shibata4, Katsuhiro Sasaki5
(1Furukawa Electric Co., Ltd., 2Japan Fine Ceramics Center, 3Osaka University, 4The University of Tokyo, 5UACJ corporation)

座 長(Chairperson)
石本 竜二(トクヤマ)
Ryuji Ishimoto(Tokuyama Corporation)
和田 充弘(三井金属鉱業)
Mitsuhiro Wada(MITSUI MINING & SMELTING CO., LTD.)

1pmG_S5-5 16:35 ~17:00
走査型透過電子顕微鏡を用いたLiイオン二次電池LiFePO4正極の構造解析
Structural analysis of Li-ion battery cathode material LiFePO4 using scanning transmission electron microscopy
小林 俊介1,桑原 彰秀1,フィッシャー クレイグ1,右京 良雄1,幾原 雄一1,2
1ファインセラミックスセンター,2東京大学)
Shunsuke Kobayashi1, Akihide Kuwabara1, Graig Fisher1, Yoshio Ukyo1, Yuichi Ikuhara1,2)
1Japan Fine Ceramics Center, 2The University of Tokyo)

1pmG_S5-6 17:00 ~17:25
化粧品開発研究への電子顕微鏡の応用;ヒト皮膚シミ部メラノサイトの3次元構造解析
Application of Electron Microscope to cosmetic developmental research;3D structural analysis of melanocyte in hyper pigmented lesion of human skin
山下 美香1
((株) 1 コーセー 研究所)
Mika Yamashita1
1KOSE Corporation)

1pmG_S5-7 17:25 ~17:50
しなやかタフポリマー電子顕微鏡解析と材料設計
Super Tough Polymer with Supramolecular NANOALLOY
小林 定之1
1東レ株式会社)
Sadayuki Kobayashi1
1Toray Industies, Inc.)